無錫冠亞射流式高低溫沖擊測試機熱流儀給芯片提供準確快速的溫度

無錫冠亞射流式高低溫沖擊測試機熱流儀適合元器件測試用設(shè)備，在用于惡劣環(huán)境的半導體電子元件的制造中，IC封裝組裝和工程和生產(chǎn)的測試階段包括在溫度（-85℃至+ 250℃）下的電子冷熱測試和其他環(huán)境測試模擬。