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    半導體溫度測試系統Chiller,測試

    簡要描述:半導體溫度測試系統Chiller,測試的典型應用:
    適合元器件測試用設備,在用于惡劣環境的半導體電子元件的制造中,IC封裝組裝和工程和生產的測試階段包括在溫度(-85℃至+ 250℃)下的電子冷熱測試和其他環境測試模擬。

    • 產品型號:TES-4555
    • 廠商性質:生產廠家
    • 更新時間:2025-01-07
    • 訪  問  量:1215
    詳情介紹
    品牌LNEYA/無錫冠亞產地類別國產
    應用領域石油,能源,電子/電池,汽車及零部件,電氣

     

    元器件測試用設備

     

    適合元器件測試用設備

    在用于惡劣環境的半導體電子元件的制造中,IC封裝組裝和工程和生產的測試階段包括在溫度(-85℃至+ 250℃)下的電子冷熱測試和其他環境測試模擬。

     

     

    型號KRY-455
    KRY-455W
    KRY-475
    KRY-475W
    KRY-4A10
    KRY-4A10W
    KRY-4A15
    KRY-4A15W
    KRY-4A25
    KRY-4A25W
    KRY-4A38WKRY-4A60W
    溫度范圍-40℃~+100℃
    控溫精度±0.5℃
    溫度反饋Pt100
    溫度顯示0.01k
    流量輸出1~10L/min1~25L/min1~25L/min1~40L/min1~40L/min5~50L/min5~50L/min
    關于流量說明/當溫度低于-30度時,大流量為25L/min當溫度低于-30度時,大流量為30L/min
    流量控制精度±0.2L/min±0.2L/min±0.2L/min±0.2L/min±0.2L/min±0.2L/min±0.2L/min
    壓力顯示采用江森自控壓力傳感器,觸摸屏上顯示壓力,可進行壓力控制調節 
    加熱功率5.5kW7.5kW10kW10kW
    選配15kW
    15kW
    選配25kW
    25kW
    選配38kW
    38kW
    選配60kW
    制冷量100℃5.5kW7.5kW10kW15kW25kW38kW60kW
    20℃5.5kW7.5kW10kW15kW25kW38kW60kW
    0℃5.5kW7.5kW10kW15kW25kW38kW60kW
    -20℃2.8kW4.5kW6kW10kW16kW25kW35kW
    -35℃1.2kW1.8kW2.5kW4kW6.5kW10kW15kW
    壓縮機艾默生谷輪渦旋柔性壓縮機
    膨脹閥艾默生/丹佛斯熱力膨脹閥
    油分離器艾默生
    干燥過濾器艾默生/丹佛斯
    蒸發器丹佛斯/高力板式換熱器
    輸入、顯示7寸彩色觸摸屏西門子S7-1200 PLC控制器
    程序編輯可編制10條程序,每條程序可編制40段步驟
    通信CAN通信總線
    安全保護具有自我診斷功能;冷凍機過載保護;高壓壓力開關,過載繼電器、熱保護裝置、低液位保護、高溫保護、傳感器故障保護等多種安全保障功能
    是否為全密閉系統整個系統為全密閉系統,高溫時不會有油霧、低溫不吸收空氣中水份,系統在運行中不會因為高溫使壓力上升,低溫自動補充導熱介質。
    制冷劑R404A/R507C
    接口尺寸G3/4G3/4G3/4G3/4G3/4G3/4G3/4
    水冷型at25度1100L/H1500L/H2000L/H2800L/H4500L/H7000L/H12000L/H
    水冷冷凝器帕麗斯/沈氏套管式換熱器
    風冷型冷凝器銅管鋁翅片換熱器(上出風形式)
    電源 380V50HZ12kW max15kW max20kW max29kW max42kW max58kW max84kW max
    水冷尺寸cm55*95*17555*95*17555*95*17570*100*17580*120*185100*150*185145*205*205
    風冷尺寸cm55*95*17555*95*17570*100*17580*120*185100*150*185  
    重量250kg280kg320kg360kg620kg890kg1300kg
    選配220V 60HZ三相  400V 50HZ三相  440V 60HZ三相
    選配溫度擴展到-40℃~+135℃
    選配更高精度控制溫度、流量、壓力
    選配自動加注防凍液系統
    選配自動液體回收系統

     

    半導體溫度測試系統Chiller,測試

    半導體溫度測試系統Chiller,測試

      IC測試貫穿芯片制造的全流程,對保證芯片的性能和穩定性意義重大,測試獨立化不僅有助于其專業性的提升,更可將芯片設計、制造中的存在問題及時分析反饋,減少產能浪費,有效降低生產成本并提升效率。

    IC測試程序繁瑣,要求很高。晶圓測試和成品測試本質上都是集成電路的電學性能測試,包括芯片的電特性、電學參數和電路功能,其中功能是器件的行為(能力),特性是器件行為的表現,而特性參數是器件的主要特征。因此,電性能測試就是對集成電路的電特性、電參數和功能在不同條件下進行的檢驗。此外,在IC測試的過程中還會相應地采取一系列測試規范以提高集成電路設計、工藝控制和使用水平,具體包括特性規范、生產規范、用戶規范和壽命終結規范,分別對應芯片工作條件的容許限度和電路性能達標的評價、生產過程中的在線測試、用戶驗收測試、可靠性評估。

    元器件測試用設備

     

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