元器件測(cè)試用溫控設(shè)備解析各元器件檢測(cè)技巧

　　元器件測(cè)試用溫控設(shè)備是用于各大元器件中，元器件測(cè)試如果不到位的話就會(huì)導(dǎo)致元器件的性能發(fā)生變化，那么，元器件測(cè)試用溫控設(shè)備檢測(cè)技巧你就很有必要知道的。

　　元器件測(cè)試用溫控設(shè)備測(cè)整流電橋各腳的性，可用萬(wàn)用表置R×1k擋，黑表筆接橋堆的任意引腳，紅表筆先后測(cè)其余三只腳，如果讀數(shù)均為比較大，則黑表筆所接為橋堆的輸出正，如果讀數(shù)為4～10kΩ，則黑表筆所接引腳為橋堆的輸出負(fù)，其余的兩引腳為橋堆的交流輸入端。使用數(shù)字萬(wàn)用表時(shí)只需將檔位打到蜂鳴檔，然后按上述方法測(cè)看是否導(dǎo)通（如果導(dǎo)通會(huì)顯示幾百的壓降，若不導(dǎo)通則顯示1）。

　　判斷晶振的好壞先用萬(wàn)用表(R×10k擋)測(cè)晶振兩端的電阻值，若為比較大，說(shuō)明晶振無(wú)短路或漏電；再將試電筆插入市電插孔內(nèi)，用手指捏住晶振的任一引腳，將另一引腳碰觸試電筆上端的金屬部分，若試電筆氖泡發(fā)紅，說(shuō)明晶振是好的；若氖泡不亮，則說(shuō)明晶振損壞。

　　單向晶閘管檢測(cè)可用萬(wàn)用表的R×1k或R×100擋測(cè)量任意兩之問(wèn)的正、反向電阻，如果找到一對(duì)的電阻為低阻值(100Ω～lkΩ)，則此時(shí)黑表筆所接的為控制，紅表筆所接為陰，另一個(gè)為陽(yáng)。檢查發(fā)光數(shù)碼管的好壞先將萬(wàn)用表置R×10k或R×l00k擋，然后將紅表筆與數(shù)碼管(以共陰數(shù)碼管為例)的“地”引出端相連，黑表筆依次接數(shù)碼管其他引出端，七段均應(yīng)分別發(fā)光，否則說(shuō)明數(shù)碼管損壞。

　　元器件測(cè)試用溫控設(shè)備的檢測(cè)技巧如上所示，用戶(hù)在運(yùn)行前不妨了解清楚其相應(yīng)的測(cè)試技巧再進(jìn)行運(yùn)行操作。（本文來(lái)源網(wǎng)絡(luò)，如有侵權(quán)請(qǐng)聯(lián)系無(wú)錫冠亞刪除，謝謝。）